日本原裝NF高精度LCR測試儀ZM2371/ZM2372/ZM2376介紹：
日本原裝NF 高精度LCR測試儀ZM2371測量范圍從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz，測量精度0.08 %。測量速度 快2ms。實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途。

測量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測量儀ZM系列
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途。

偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對(duì)1nF的電容反復(fù)測量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376，測量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。

寬頻測量范圍和高分辨率設(shè)定

ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz～100kHz、ZM2376覆蓋了1mHz～5.5MHz的頻率范圍。并可設(shè)定5位數(shù)/6位數(shù)的分辨率*，因此除了在實(shí)際使用頻率對(duì)各種部件進(jìn)行測量外，還可以對(duì)參數(shù)的頻率依賴性進(jìn)行評(píng)價(jià)。
*ZM2371/ZM2372：5位數(shù)、ZM2376：6位數(shù)


廣域的測量電平和ALC功能

對(duì)10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測量信號(hào)電平可進(jìn)行3位數(shù)分辨率的設(shè)置。另外，利用ALC（自動(dòng)電平控制）功能可以設(shè)置定電壓/定電流驅(qū)動(dòng)，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅(qū)動(dòng)信號(hào)來驅(qū)動(dòng)，可實(shí)現(xiàn)高再現(xiàn)性的測量。


快速測量

測量時(shí)間可以在RAP (Rapid)，F(xiàn)AST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級(jí)切換。選擇RAP，可以實(shí)現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量?？焖?、高精度的LCR測量儀有助于提高生產(chǎn)線及自動(dòng)檢查裝置的測量效率。


高精度

實(shí)現(xiàn)了基本精度0.08%、顯示分辨率多6位數(shù)的高精度測量。值得信賴的測量在從zuixian端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選，對(duì)提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)*的。


DC偏置電壓
ZM2371/ZM2372內(nèi)置了0～＋2.5V、ZM2376內(nèi)置了0～＋5V的DC偏置用電源，可以測量電解電容等極性零部件。
ZM2376還可以快速測量鋰離子電池（單電池）等的阻抗。
另外，如果使用選購的DC電壓偏置適配器*，可在試樣上加載
±40V的偏置電壓，測量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴性等。
*選購
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直流電阻 (DCR) 測量

可測量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻?？梢酝瑫r(shí)在主參數(shù)中顯示電感，在副參數(shù)中顯示直流電阻的測量值。

接觸檢查功能

● 日本原裝NF高精度LCR測試儀ZM2372

4端子接觸檢查
為了防止因測量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測量或錯(cuò)誤分選，ZM2372采用4個(gè)測量端子來進(jìn)行接觸檢查判斷，由此排除不良產(chǎn)品。
（進(jìn)行接觸檢查的額外時(shí)間 4ms)
 

● ZM2376
接觸檢查、低容量檢查
檢測異常的低容量及電壓、電流，無需額外時(shí)間就能檢測出不良接觸。




觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)

可以只在接觸期間驅(qū)動(dòng)試樣的功能。
可以降低在測量大容量電容時(shí)，由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測量履歷特性的試樣，測量值會(huì)出現(xiàn)較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)的話，加在各試樣上的驅(qū)動(dòng)信號(hào)和取得信號(hào)的時(shí)間以及相位關(guān)系都是固定的，可以抑制測量值的誤差，大幅縮短測量時(shí)間。



偏差顯示

預(yù)先設(shè)置測量部件的顯示值，可顯示與預(yù)設(shè)值的偏差、偏差%。 可應(yīng)用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗(yàn)等。



比較器

主參數(shù)大可分為14個(gè)*的BIN類別，在副參數(shù)中可以對(duì)設(shè)定好的1組上下限值的測量結(jié)果進(jìn)行分選。測量值可通過偏差或偏差%進(jìn)行分選，判定結(jié)果通過處理器接口*輸出。另外，根據(jù)判定結(jié)果，有時(shí)會(huì)發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠(yuǎn)程控制中，使用限值判定功能，也可以對(duì)主參數(shù)、副參數(shù)的上下限值（各1組）進(jìn)行判定。
*ZM2371：多分9類，未配備處理器接口。



復(fù)合測量 (ZM 2376)

復(fù)合測量是指對(duì)一個(gè)試樣多可32個(gè)步驟的測量條件測量，綜合的進(jìn)行合格判定的功能。可設(shè)定每個(gè)步驟的測量頻率、測量信號(hào)電平、內(nèi)部DC偏壓、測量參數(shù)等，對(duì)主參數(shù)的上下限值1組、副參數(shù)的上下限值1組進(jìn)行測量和限值判定。
*ZM2376*的功能。



接口

標(biāo)配遠(yuǎn)程控制用的各種接口。無需追加選購件就可對(duì)應(yīng)生產(chǎn)線嵌入及自動(dòng)檢查系統(tǒng)等。

 

• 補(bǔ)正功能（開路補(bǔ)正，短路補(bǔ)正，負(fù)載補(bǔ)正，電纜線補(bǔ)正）
• 設(shè)置、補(bǔ)正值存儲(chǔ)（32組、保存在不揮發(fā)性儲(chǔ)存中、可切換）
• 監(jiān)視顯示（電壓、電流）
• 放電保護(hù)
• 樣板程序（C#、VB）
• 標(biāo)配LabVIEW驅(qū)動(dòng)＜ZM2371/ZM2372＞
• IVI計(jì)測器驅(qū)動(dòng)（在LabVIEW的系統(tǒng)上自動(dòng)生成LabVIEW驅(qū)動(dòng)）＜ZM2376＞
•  

嵌入部件的生產(chǎn)線、分選裝置中。
快速度2ms、偏差小的測量、抑制連接試樣電纜造成影響的補(bǔ)償功能、比較器及接觸檢查*
等功能，并且還配備了自動(dòng)分選用處理器接口*，足以應(yīng)對(duì)各種生產(chǎn)線需求。
*ZM2371未配備。

嵌入部件的生產(chǎn)線、分選裝置中。
快速度2ms、偏差小的測量、抑制連接試樣電纜造成影響的補(bǔ)償功能、比較器及接觸檢查*
等功能，并且還配備了自動(dòng)分選用處理器接口*，足以應(yīng)對(duì)各種生產(chǎn)線需求。

快速測量鋰離子電池的阻抗。
ZM2376的內(nèi)部DC偏置電壓大可設(shè)置為+5V，因此可以測量電動(dòng)勢(shì)超過3V的鋰離子電池（單電池）。
另外，可從1mHz的低頻率開始測量，因此可以對(duì)電池的內(nèi)部阻抗進(jìn)行詳細(xì)評(píng)價(jià)。

標(biāo)配了可以進(jìn)行各種測量條件設(shè)定及獲取、顯示測量數(shù)據(jù)的軟件。
可獲得CSV文件形式的測量數(shù)據(jù)，方便在研究開發(fā)中的大量數(shù)據(jù)的處理。此外，可通過掃頻測量，對(duì)應(yīng)阻抗 頻率特性的測量。

2325AL	2325A（L/M）開爾文夾測試引線 這是用兩個(gè)夾具、能連接至四個(gè)端子的測試引線。對(duì)于大型或特殊形狀、并難于插入直接連接型測試夾具的電子元件，可使用本測試引線?，F(xiàn)備有標(biāo)準(zhǔn)L型和配備小型夾具的M型可供選用。
	[M 型]	[L 型]